Рубрика «JTAG»

Экономичная станция периферийного сканирования для разработчиков

Опубликовано 26 Окт 2010 | Рубрика JTAG, Новости | Просмотров: 87

JTAG Technologies предлагает новую бюджетную станцию для разработчиков плат и систем, а также небольших компаний, которые тоже хотели бы использовать преимущества JTAG-тестирования в своей работе.

Периферийное сканирование (или JTAG-тестирование) остается мощным средством для определения дефектов сборки, таких как обрывы, замыкания, отсутствующие компоненты и поврежденные микросхемы, с момента утверждения стандарта IEEE 1149.1 в 1990 году. Однако за 20 лет средства тестирования стали настолько автоматизированными и мощными, что все больше и больше стали подходить по функциональности и цене для производства серийных изделий, а не отелов разработчиков, а тем более небольших.

Далее...