Rohde & Schwarz добавляет новую функциональность при генерации сигналов LTE

Опубликовано 17 Ноя 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Новости | Просмотров: 52

Для базовых станций LTE в технической спецификации 36.141 3GPP определен ряд тестовых сценариев для оценки соответствия установленным требованиям. В сценариях тестируются приемная и передающие части, а также оценка производительности.

Обычно подготовка измерительного оборудования к такому тестированию сопровождается длительным изучением требований, настройкой различных параметров и математическими расчетами, что требует высокой квалификации персонала.

Далее...

Метки: , , , ,

Agilent анонсирует новый модульный PXI источник тока/напряжения

Опубликовано 17 Ноя 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 53

16 ноября 2010 компания Agilent представила одноканальный источник тока/напряжения M9186A PXI, модульный прибор для использования в тестовых приложениях для автомобильной электроники.

Модульное решение на базе PXI позволяет тестерам задавать напряжения и проводить измерение результирующего тока, или генерировать ток и измерять результирующее напряжение. M9186A поставляется с компенсирующим входом для задания точного напряжение тестируемому устройству. Модуль также предлагает функцию безопасной блокировки для защиты устройства от повреждения высоким напряжением.

Далее...

Метки: , ,

National Instruments представляет четыре новых адаптерных модуля NI FlexRIO FPGA

Опубликовано 17 Ноя 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 90

15 ноября компания National Instruments объявила о выпуске четырех новых адаптерных модулей для семейства продуктов NI FlexRIO, которые обеспечивают реконфигурируемый на основе ПЛИС  ввод/вывод (reconfigurable I/O (RIO)) для PXI-систем с использованием программного обеспечения LabVIEW FPGA Module.

Настраиваемые пользователем продукты семейства NI FlexRIO,  используют передовое PXI-оборудование и интеграцию программного обеспечения, что дает инженерам коммерческие, готовые к использованию решения, специально предназначенные для более легкой реализации FPGA-технологии для продвинутых автоматизированных испытаний и измерений.

Далее...

Agilent IC-CAP WaferPro успешно внедрена в STMicroelectronics

Опубликовано 16 Ноя 2010 | Рубрика Agilent, Новости | Просмотров: 51

Agilent Technologies объявила, что ее программное обеспечение IC-CAP WaferPro было успешно развернуто в STMicroelectronics. WaferPro добавляет новые возможности программной платформе IC-CAP для обеспечения эффективных автоматизированных измерений на пластине для приложений моделирования.

STMicroelectronics использует IC-CAP в качестве платформы моделирования для экстракции моделей полупроводниковых приборов для кремниевых устройств (например CMOS и BJT). Компания будет использовать IC-CAP WaferPro для проведения всех автоматизированных  измерений на полупроводниковой пластине.

Далее...

Rohde & Schwarz расширяет диапазон частот генераторов сигналов серии SMB100A

Опубликовано 13 Ноя 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Новости | Просмотров: 53

C выпуском новых частотных опций SMB-B112 (с электронным аттенюатором) и SMB-B112L (без аттенюатора) компания Rohde & Schwarz расширяет диапазон частот генераторов сигналов серии SMB100A.

Диапазон частот новых моделей составляет от 100 кГц до 12,75 ГГц и они также обладают всеми свойствами выпущенных ранее и хорошо зарекомендовавших себя генераторов до 6 ГГц: высокой выходной мощностью (>18 дБмВт), низкими фазовыми и широкополосными шумами, малыми массогабаритными характеристиками, наличием в базе амплитудной, частотной и фазовой модуляции.

Далее...

Rohde & Schwarz представляет новые портативные анализаторы кабелей и антенн R&S ZVH4/8

Опубликовано 13 Ноя 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Новости | Просмотров: 53

Компания Rohde & Schwarz представляет новые портативные анализаторы кабелей и антенн R&S ZVH4 и R&S ZVH8 для установки и обслуживания антенных систем в полевых условиях.

Анализаторы ZVH4/8 адресованы в первую очередь пользователям, не нуждающимся в функции анализа спектра, и представляют собой более экономное решение, чем анализаторы спектра FSH4/8 с соответствующими опциями измерения.

Далее...

Девятая научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments – 2010»

Опубликовано 13 Ноя 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 47

3-4 декабря 2010 года в Российском университете дружбы народов пройдет девятая международная научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments – 2010». Традиционно конференция соберет более 350 инженеров, профессоров, преподавателей, научных сотрудников и студентов со всей России, стран СНГ и Балтии. Организаторами конференции выступят Российский университет дружбы народов и филиал корпорации National Instruments в России, СНГ и Балтии.

Далее...

Журнал EE Times. Выпуск №1590. Октябрь 2010 г.

Опубликовано 13 Ноя 2010 | Рубрика Разное | Просмотров: 46

  • Название: EE Times. Выпуск №1590. Октябрь 2010 г.
  • Тип документа: Журнал
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 20,4 МБ

Краткое описание:

Интересный журнал новостей из мира современной электроники

Далее...

Метки: ,

Обновление ПО AKTAKOM Arbitrary Generator для генераторов сигналов произвольной формы

Опубликовано 12 Ноя 2010 | Рубрика Актаком, Новости | Просмотров: 55

В процессе перехода программного обеспечения для виртуальных приборов АКТАКОМ на новые операционные системы (Windows Vista и Windows 7), вышла в свет новая версия ПО AKTAKOM Arbitrary Generator (v.1.1.2.1) для генераторов сигналов АНР-3121, АНР-3122 или модулей генераторов в комбинированных приборах АСК-4106, АСК-4114, АСК-4174.

Приложение предназначено для полнофункционального управления поддерживаемыми приборами, создания, редактирования и загрузки данных для генерации сигналов по двум каналам.ПО генератора обеспечивает обнаружение и составление списка доступных к работе приборов, подключённых к компьютеру локально (по интерфейсу USB) или через сеть Ethernet/Internet; инициализацию и тестирование выбранного экземпляра генератора сигналов.

Далее...

Каталог Yokogawa Test & Measurement 2010 г.

Опубликовано 12 Ноя 2010 | Рубрика Yokogawa, Разное | Просмотров: 55

  • Название: Solutions & Product Overview.Test & Measurement (2010 г.)
  • Автор: Yokogawa
  • Тип документа: Каталог
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 2,15 МБ

Краткое описание:

Каталог измерительных приборов компании Yokogawa 2010 г.

Далее...