Руководство по эксплуатации для осциллографов Tektronix серии DPO7000 и DSA/DPO70000

Опубликовано 06 Дек 2010 | Рубрика Guides & Manuals, Tektronix | Просмотров: 74

  • Название: Цифровые осциллографы серии DPO7000 и DSA/DPO70000
  • Автор: Tektronix
  • Тип документа (версия): Руководство по эксплуатации
  • Язык: РУС
  • Формат: PDF
  • Размер: 12,5 МБ

Краткое описание:

Настоящее руководство содержит описание установки и использования приборов серий DPO7000, DSA70000 и DPO70000. Из него можно почерпнуть сведения об основных возможностях и понятиях.

Далее...

Модульные инструменты National Instruments. Обзор PXI шасси.

Опубликовано 06 Дек 2010 | Рубрика National Instruments, Разное | Просмотров: 65

  • Название: Модульные инструменты NI
  • Автор: National Instruments
  • Тип документа: Брошюра
  • Язык: РУС
  • Формат: PDF
  • Размер: 2,18 МБ

Краткое описание:

Компания National Instruments предлагает широкий выбор PXI-шасси для задач измерений и автоматизации. Особенностью этих шасси являются высокопроизводительная панель и надежный корпус платформы CompactPCI.

PXI (PCI eXtentions for Instrumentation) – это надежная компьютерная платформа, предназначенная для создания гибких и мощных систем измерений и автоматизации. PXI объединяет скорость и производительность шины PCI с расширенными возможностями тактирования и синхронизации в надежном корпусе модульной платформы CompactPCI.

Далее...

De-embedding повышает точность измерения

Опубликовано 03 Дек 2010 | Рубрика Статьи & Обзоры | Просмотров: 106

Инженеры могут компенсировать потери сигнала в кабеле, разъемах, и тестовых платах.

Автор: Randy White (Tektronix)
Источник: T&M World
Перевод: Atmen

Непрекращающееся увеличение скорости последовательной передачи данных вынуждает инженеров понимать эффекты, которые происходят в линиях передачи и тестовой оснастке при измерениях глазковой диаграммы. По мере увеличения скорости передачи данных, потери в оснастке и каналах передачи могут приводить к неточностям в глазковой диаграмме. Удаление, или исключение неоднородных эффектов (de-embedding), возникающих в оснастке и каналах передачи при измерениях, позволяет  просматривать истинную глазковую диаграмму сигнала.

Поскольку высокоскоростной сигнал передается, он теряет свою точность (качество), особенно если среда канала передачи – недорогой материал печатной платы FR-4. Кабели, разъемы, и тестовая оснастка также способствует деградации сигнала. Результат: закрытая (или несуществующая) глазковая диаграмма на дальнем конце канала передачи.

Далее...

АНР-2020 – новый высокочастотный генератор Актаком с режимом стерео FM

Опубликовано 02 Дек 2010 | Рубрика Актаком, Новости | Просмотров: 574

В очередной раз линейка высокочастотных генераторов специальной формы Актаком пополнилась новой моделью.

ВЧ генератор Актаком АНР-2020 предназначен для работы в частотном диапазоне от 100 кГц до 200 МГц. Построенные по принципу прямого цифрового синтеза, генераторы Актаком АНР-2020 обеспечивает высокую точность установки частоты, быстрый переход с одной частоты на другую, малый уровень искажений и ряд иных дополнительных функций. Несмотря на широкий диапазон частот, АНР-2020 имеет высокое разрешение по частоте – 1 Гц и высокую точность установки частоты – всего 0,5 ppm.

Далее...

LeCroy совместно с Evatronix работают над проектом для технологии USB3.0

Опубликовано 02 Дек 2010 | Рубрика LeCroy, Новости | Просмотров: 42

Компания LeCroy будет работать с полупроводниковой компанией Evatronix над разработкой продуктов для скоростной технологии последовательной шины следующего поколения. Проект будет включать дизайн чипа и тестирование на соответствие стандартам USB 3.0.

“Поскольку скорости сигналов увеличиваются, тестирование на соответсвие и отладка становятся более сложными”, – сказал Роберто Петрильо (Roberto Petrillo), вице-президент компании LeCroy.

Далее...

Advantest представляет новую тестовую систему T7910 для аналогового тестирования

Опубликовано 02 Дек 2010 | Рубрика Advantest, Новости | Просмотров: 50

Advantest Corporation объявила о выпуске новой системы тестирования T7910, предназначенной преимущественно для тестирования аналоговых микросхем общего назначения с низким количеством выводов. T7910 значительно уменьшает стоимость теста с очень эффективным распределением системных ресурсов. Новая тестовая система будет доступна уже с декабря.

Широко используемые в больших объемах в бытовой электронике и автомобильных приложениях, аналоговые микросхемы чувствительны к цене.

Далее...

National Instruments представила новую версию среды NI TestStand 2010

Опубликовано 30 Ноя 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 59

29 ноября 2010 г. – компания National Instruments представила последнюю версию среды NI TestStand 2010 – предназначенную для автоматизации испытаний и функционального тестирования электронных устройств. Среда NI TestStand предназначена для создания последовательности тестов и доступна по меньшей стоимости в случае покупки лицензии сразу на несколько автоматизированных испытательных станций.

Последняя версия данной среды имеет встроенный анализатор очереди тестов, инструменты для сравнения программ тестирования, поддерживает самые современные компьютерные технологии и обладает усовершенствованной интеграцией со средой графической разработки NI LabVIEW. NI TestStand 2010 представляет собой идеальное решение для проведения испытаний телекоммуникационного оборудования, бытовой электроники, автомобильных компонентов, авионики и т.д..

Далее...

Метки: , ,

Расширение модельного ряда виртуальных осциллографов АКТАКОМ

Опубликовано 30 Ноя 2010 | Рубрика Актаком, Новости | Просмотров: 55

Осциллограф – приставка к ПК АСК-3172 предназначен для широкого диапазона осциллографических измерений, встречающихся в электронике, разработке и научно-исследовательских лабораториях и используется совместно с персональным компьютером, снабженным USB или LAN интерфейсом.

Виртуальный осциллограф АСК-3172 позволяет пользователю наблюдать форму сигнала, используя два независимых канала с разрешением 8 бит и чувствительностью от 2 мВ/дел до 10 В/дел в полосе частот от 0 до 100 МГц (10 ГГц в стробоскопическом режиме) с аппаратным буфером на 131071 выборок для каждого канала. Входное сопротивление выбирается программно — 1 МОм или 50 Ом.

Далее...

Yokogawa представляет новую тестовую систему ST6731 для тестирования FPD драйверов

Опубликовано 28 Ноя 2010 | Рубрика Yokogawa, Новости | Просмотров: 46

Yokogawa Electric Corporation объявляет, что разработала новую тестовую систему для тестирования микросхем драйверов для плоских экранов (FPD), которые поддерживают высокоскоростные интерфейсы. Этот новый продукт будет выпущен в марте 2011 года. ST6731 является высокопроизводительной системой тестирования FPD-драйверов, которая поддерживает интерфейсы, имеющие скорость передачи данных 2 Гбит/с и выше при сохранении всех возможностей и функций популярного тестера ST6730.

Этот продукт будет выставлен на выставке SEMICON Japan 2010, которая стартует 1 декабря 2010 г.

Далее...

Метки: , , ,

Журнал новостей Rohde & Schwarz. Выпуск 201 – 2010/II

Опубликовано 27 Ноя 2010 | Рубрика Rohde & Schwarz, Разное | Просмотров: 50

  • Название: Новости Rohde & Schwarz. Выпуск 201 – 2010/II (2010г.)
  • Автор: Rohde & Schwarz
  • Тип документа: Журнал
  • Язык: ENG
  • Формат: PDF
  • Размер: 6,74 МБ

Краткое описание:

Все последние новости компании Rohde & Schwarz, собранные в втором выпуске журнала в 2010 г.

Далее...