Архив за 26 Окт 2010

Экономичная станция периферийного сканирования для разработчиков

Опубликовано 26 Окт 2010 | Рубрика JTAG, Новости | Просмотров: 88

JTAG Technologies предлагает новую бюджетную станцию для разработчиков плат и систем, а также небольших компаний, которые тоже хотели бы использовать преимущества JTAG-тестирования в своей работе.

Периферийное сканирование (или JTAG-тестирование) остается мощным средством для определения дефектов сборки, таких как обрывы, замыкания, отсутствующие компоненты и поврежденные микросхемы, с момента утверждения стандарта IEEE 1149.1 в 1990 году. Однако за 20 лет средства тестирования стали настолько автоматизированными и мощными, что все больше и больше стали подходить по функциональности и цене для производства серийных изделий, а не отелов разработчиков, а тем более небольших.

Далее...

Agilent 53200A – проверка разрешения 20пс в режиме одиночного отсчета.

Опубликовано 26 Окт 2010 | Рубрика Agilent, Статьи & Обзоры | Просмотров: 74

Недавно компания Agilent представила семейство универсальных частотомеров серии 53200А. В этой статье я рассмотрю более подробно такой параметр, как разрешение в режиме одиночного отсчета (Single Shot Resolution (SSR)), определенный в спецификации для Agilent 53200A равным 20 ps. То, какое счетчик имеет разрешение SSR, определяет, как хорошо он может принять (обработать) событие во времени, где событие это изменение фронтом порога. Величина 20 пс – это лидирующий в отрасли показатель.

Далее...