Архив за 18 Окт 2010

National Instruments добавляет возможность автоматического тестирования LTE для PXI RF-устройств

Опубликовано 18 Окт 2010 | Рубрика National Instruments, Новости | Просмотров: 43

Компания National Instruments представила набор библиотек для тестирования протокола беспроводной связи LTE, используемый совместно с радиочастотными векторными генераторами и анализаторами сигналов в формате PXI. Уже 20 и 21 октября в Чикаго на Всемирной конференции по беспроводным сетям 4-го поколения специалисты National Instruments продемонстрируют возможности платформы. Новая платформа была разработана специально для функционального тестирования беспроводных модулей, подсистем, станций мобильной связи и представляет собой функционально гибкое и высокоточное решение для специалистов, занимающихся разработкой специализированных систем тестирования оборудования, работающего в сетях LTE.

Далее...

Метки: , , , ,