Архив за 16 Окт 2010

Keithley обновляет программное обеспечение ACS Basic Edition для тестирования полупроводниковых изделий

Опубликовано 16 Окт 2010 | Рубрика Keithley, Новости | Просмотров: 48

Новая версия 1.2 ПО Keithley ACS Basic Edition для параметрического тестирования полупроводников обеспечивает новый уровень удобства пользования, комфорта и производительности при измерениях характеристических параметров компонентов и дискретных (в корпусе) полупроводниковых устройств. Возможность режима трассировки, которая позволяет проводить мгновенную проверку результатов и в интерактивном режиме управлять напряжением, чтобы избежать пробоя устройства.

Далее...