Verigy получает награду SEMI за инновации в тестирование

Опубликовано 11 Окт 2010 | Рубрика Verigy, Новости | Просмотров: 40

Компания Verigy получила первую награду  Advanced Testing Innovation Award от SEMI (Semiconductor Equipment and Materials International’s),  за вклад в повышение функциональности и эффективности в полупроводниковом тестировании. Награда была вручена на выставке SEMICON в Тайване.

Такие характеристики тестовых систем Verigy, как способность работы в различных частотных диапазонах, количество каналов и множество типов устройств для тестирования, помогают клиентам сократить время выхода на рынок и снизить общую стоимость теста.

Для решения следующего поколения потребностей в тестирования, Verigy продолжает разрабатывать инновационные решения для прямого подсоединения зондов к RF-устройствам связи и 3D тестирования ИМС. Представленное в июне  решение V93000 Direct-Probe ™, уменьшает длину и количество сигнальных переходов между тестером и проб-картой зонда, в результате чего достигается самая высокая производительность тестирования в отрасли беспроводных, MPU и GPU устройств на пластине. Кроме того, Verigy активно развивает с 2007 года технологию 3D тестирования ИМС  и является членом 3D IC Special Interest Group.

Источник: www.verigy.com

Дополнительные материалы для загрузки

Verigy V93000 Direct-Probe Solution Overview (Язык: ENG, Размер: 234 КБ)

Метки: , , ,

Ваш отзыв





XHTML::
<a href="" title=""> <abbr title=""> <acronym title=""> <b> <blockquote cite=""> <cite> <code> <del datetime=""> <em> <i> <q cite=""> <strike> <strong>