Метка «SPARQ»

LeCroy совместно с Evatronix работают над проектом для технологии USB3.0

Опубликовано 02 Дек 2010 | Рубрика LeCroy, Новости | Просмотров: 43

Компания LeCroy будет работать с полупроводниковой компанией Evatronix над разработкой продуктов для скоростной технологии последовательной шины следующего поколения. Проект будет включать дизайн чипа и тестирование на соответствие стандартам USB 3.0.

“Поскольку скорости сигналов увеличиваются, тестирование на соответсвие и отладка становятся более сложными”, – сказал Роберто Петрильо (Roberto Petrillo), вице-президент компании LeCroy.

Далее...

Быстрое получение S-параметров

Опубликовано 09 Окт 2010 | Рубрика LeCroy, Новости | Просмотров: 45

SPARQ поможет Вам измерить производительность последовательных потоков данных и отладить систему.

Анализатор целостности сигналов сети LeCroy SPARQ позволяет Вам получать S-параметры на платы, кабели, соединители, и линии передачи быстрее чем использование векторного  анализатора сети. Это поможет Вам измерить производительность последовательных потоков данных и отладить систему. Используя рефлектометрию временного интервала, SPARQ вычисляет S-параметры, которые Вы можете использовать при моделировании каналов передачи или в осциллографах, чтобы переместить опорный план ближе к интересуемому месту измерения. Прибор производит импульс с  временем нарастания 6-пс (20% -80%), от которого, вычисляет S-параметры, частотную характеристику, вносимые потери в дифференциальном и синфазном режимах, и обратные потери от DC до 40 ГГц.

Далее...